OLYMPUS推出材料研究级激光共焦显微镜LEXT OLS4000

 OLYMPUS推出最新的激光扫描共聚焦测量显微镜 LEXT OLS4000，它不仅具备有常规显微镜的功能，更有BF，DF，DIC等多种观察方法。它以405nm短波长半导体激光为光源,通过显微镜内高精度扫描装置对样品表面的二维扫描，获得水平分辨率高达0.12μm的表面显微图像，通过显微镜高精度步进马达驱动和5nm光栅控制的聚焦装置，运用共聚焦技术（Confocal），逐层获取样品各个二维图像和焦面的纵向空间坐标。经计算机处理，将各个焦平面的显微图象叠加，获得样品表面的三维真实形态（近似SEM扫描电镜的Morphologic图像，将采样数据运算后，可获得亚微米级的线宽，面积，体积、台阶、线与面粗糙度、透明膜厚，几何参数等测量数据。）可作为高精度测量设备，符合国际计量追溯体系（ISO）。附加金相插件，可做金相分析。

新线性扫描功能确保LEXT可以以国际标准进行光学粗糙度的测量，同时，LEXT的新2D表面粗糙度标准领先于其他产品，让表面分析的精度又上一个新水平。

新的Z轴驱动提供步进精度1nm，这使3D测量非常精确，同时可重复操作。新的载物台确保更精确地移动，设备还内置了撤销系统，保证样品或其他外部震动不会影响准确度。

LEXT OLS4000是光学显微镜的一个里程碑，使得光学测量技术既能提供测量功能也具有繁忙实验室需要的灵活性。